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高分辨率电子背散射衍射是什么?为什么重要?为什么重要?
高分辨率电子背散射衍射 (EBSD) 可以测绘样品的残余弹性应变,应力和塑性应变 - 全部来自你现有的EBSD系统采集的数据。
用CrossCourt来提高灵敏度和分辨率技术
灵敏度和分辨率是如何用CrossCourt得到提高以产生可比较的内核平均取向差图-或者“KAMs”。高分辨率内核平均取向差(KAM)图和标准分辨率KAM地图之间进行了一个比较
测量半导体中的应变
用CrossCourt检查硅的显微硬度压痕揭示了它的应变,剪应变和旋转
使用电子背散射衍射和共焦拉曼光谱对硅的应变测量的比较
分别拥有10nm和100nm的的空间分辨率的电子背散射衍射(EBSD)和共焦拉曼显微术(CRM),测量到了硅中小至10兆帕的应力。
SiGeSi台面条纹的纳米应变
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