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CrossCourt - 新一代电子背散射衍射(EBSD)应变测试分析软件 (学术研究专用版)
CrossCourt - 新一代电子背散射衍射(EBSD)应变测试分析软件 (学术研究专用版)
编号 : A001
规格 : 学术研究专用版
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Crosscourt – 新一代电子背散射衍射(EBSD)应变测试分析


残余应力会影响材料性能的许多方面。CrossCourt EBSD分析软件在材料科学开辟了一个窗口,允许精确地测量亚微米级别的残余弹性和塑性应变,且灵敏度好于万分之二。

对所有尺度下应变分布的透彻了解在很多情况下是非常重要的,包括:

结构材料的裂纹形核和扩展,

如应力腐蚀开裂和夹杂物附近热和机械应变的效果。

•燃料电池和太阳能电池的效率

以及光电,铁电和压电器件。

•薄膜生长,

包括热应变,错配位错数量。


Crosscourt的历史


CrossCourt应变测量软件是在2005年开发,作为一个突破性的工具以用于测量在半导体工业中的弹性应变。继它在这个领域彻底测试,现已扩展到提供塑性变形的额外测量包括高分辨率的取向差图和几何必需位错(GND)分布。


客户应用


目前客户正在航空航天,核能和太阳能发电,以及半导体等行业使用CrossCourt。这个研究工具使他们能够第一次清楚地看到这些很大程度停留在理论上或以前未探测到的效应。

我们客户的研究已经揭示了:

•显微结构特征如何会导致应力集中,而这引起裂纹萌生和扩展。

•三结如何会导致弹性应变水平比塑性应变屈服点更高。

•孪晶形成和传播的机制。

•几何必需位错密度的定量下限估计。


CrossCourt比传统的EBSD分析灵敏80倍以上


从标准EBSD得到的最有用的一种结果是内核平均取向差图(左),它可以显示金属晶粒内的局部塑性变形的程度。CrossCourt的一个高级功能是它可用于计算高分辨率内核平均取向差图(右),以揭示微观结构的更详细信息。