用CrossCourt来提高灵敏度和分辨率技术
用CrossCourt来提高灵敏度和分辨率技术
用CrossCourt来提高灵敏度和分辨率技术
灵敏度和分辨率是如何用CrossCourt得到提高以产生可比较的内核平均取向差图-或者“KAMs”。高分辨率内核平均取向差(KAM)图和标准分辨率KAM地图之间进行了一个比较

一个很好的例子关于灵敏度和分辨率如何用CrossCourt得到提高得到提高以产生可比较的内核平均取向差图-或者“KAMs”。KAM图成为用于表示在样品里相邻点之间结晶取向(角取向差)的小的相对差异的标准方法。传统的电子背散射衍射应用,如EDAX-TSLOIM以及byOxford-HKLInca/AZtec包括了这种功能在他们的标准分析软件包中。往往这些图提供了弹性应变结果的指示。内部应变常表现出从点到点的急剧变化,如果它们显著地超过弹性极限它们通常会包括位错在样品体积中,而这些由晶体旋转和KAM的一个较高的值表示。

上图是由CrossCourt用匹配传统EBSD系统的用户的分辨率设置产生的一张KAM图。这些系统使用霍夫转换来测量晶体的取向-0.5度的精度。这种程度的细节越来越多地对特定类型的材料的研究来说是不足够的,特别是当它涉及到测量弹性应力和应变。事实证明,标准KAM对于这些研究来说噪音太多,所以一个更好的方法是急需的。CrossCourt使用互相关的技术对一张EBSD图样和另外的图样进行比较以产生它的映射数据- 包括KAM图。下面是相同的数据集应用新的设置来揭示该样品更多信息的的一个例子。

这是一个高分辨(HRKAM图,使取向差测量保证在1/100度内。正如你可以从上面的图像看到的,我们现在能够揭示样品中更多的细节,在视场范围内似乎是三个不同的行为区域。


CrossCourt能够利用此类信息,并将其应用到材料的应力和应变分析上。请看看网站上的一些其他数据使用我们的软件工具描述它的功能和应力和应变测量的应用。

感谢由英国牛津大学提供的数据